|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 40 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
The validity of Psychosis Proneness Scales as vulnerability indicators in recent-onset schizophrenia patients |
| Auteur: |
Horan, William P. Reise, Steven P. Subotnik, Kenneth L. Ventura, Joseph Nuechterlein, Keith H. |
| Verschenen in: |
Schizophrenia research |
| Paginering: | Jaargang 100 (2008) nr. 1-3 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 40 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |