|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Critical current density measurement of thin films by AC susceptibility based on the penetration parameter h |
| Auteur: |
Li, Xiao-Fen Grivel, Jean-Claude Abrahamsen, Asger B. Andersen, Niels H. |
| Verschenen in: |
Physica. C, Superconductivity and its applications |
| Paginering: | Jaargang 477 (2012) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |