|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Adhesion strength study of IBAD–MOCVD-based 2G HTS wire using a peel test |
| Auteur: |
Zhang, Y. Hazelton, D.W. Knoll, A.R. Duval, J.M. Brownsey, P. Repnoy, S. Soloveichik, S. Sundaram, A. McClure, R.B. Majkic, G. Selvamanickam, V. |
| Verschenen in: |
Physica. C, Superconductivity and its applications |
| Paginering: | Jaargang 473 (2012) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |