|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 150 van 243 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of local critical currents in TFA-MOD processed coated conductors by use of scanning Hall-probe microscopy |
| Auteur: |
Shiohara, K. Higashikawa, K. Kawaguchi, T. Inoue, M. Kiss, T. Yoshizumi, M. Izumi, T. |
| Verschenen in: |
Physica. C, Superconductivity and its applications |
| Paginering: | Jaargang 471 (2011) nr. 21-22 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 150 van 243 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |