|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Current-voltage measurements as a probe of the activation barriers for flux creep in thin films of YBa2Cu3O7−δ |
| Auteur: |
Berghuis, P. Herzog, R. Somekh, R.E. Evetts, J.E. Doyle, R.A. Baudenbacher, F. Campbell, A.M. |
| Verschenen in: |
Physica. C, Superconductivity and its applications |
| Paginering: | Jaargang 256 (1996) nr. 1-2 pagina's 20 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |