|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Combined HRTEM, X-ray microchemical and EELS fine structure analysis of planar defects in YBa2Cu3O7−δ |
| Auteur: |
Dravid, V.P. Zhang, Hong Marks, L.D. Zhang, J.P. |
| Verschenen in: |
Physica. C, Superconductivity and its applications |
| Paginering: | Jaargang 192 (1992) nr. 1-2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |