|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on trap density depending on Si ratio in amorphous SiZnSnO thin-film transistors |
| Auteur: |
Lee, Byeong Hyeon Hong, Sae-Young Kim, Dae-Hwan Kim, Sangsig Kwon, Hyuck-In Lee, Sang Yeol |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 574 (2019) nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |