|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 69 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect characterization of MOCVD grown AlN/AlGaN films on sapphire substrates by TEM and TKD |
| Auteur: |
O’Connell, J.H. Lee, M.E. Westraadt, J. Engelbrecht, J.A.A. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 535 (2018) nr. C pagina's 293-298 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 69 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |