|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8093 van 18303 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of structural defects of thick GaN grown by flow-modulated hydride vapor-phase epitaxy |
| Auteur: |
Zhang, Wei Alves, Helder R. Riemann, Till Heuken, M. Veit, Peter Meister, Dirk Kriegseis, Wilhelm Hofmann, Detlev M. Christen, Juergen Meyer, Bruno K. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 308-310 (2001) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8093 van 18303 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |