|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
Grazing incidence X-ray studies of twist-bonded Si/Si and Si/SiO2 interfaces |
| Auteur: |
Buttard, D Eymery, J Rieutord, F Fournel, F Lübbert, D Baumbach, T Moriceau, H |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 283 (2000) nr. 1-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |