|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray scattering study of interface roughness correlation in Mo/Si and Ti/C multilayers for X-UV optics |
| Auteur: |
Jergel, M. Holý, V. Majková, E. Luby, Š. Senderák, R. Stock, H.J. Menke, D. Kleineberg, U. Heinzmann, U. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 253 (1998) nr. 1-2 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 23 gevonden artikelen
| << vorige |