|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 72 gevonden artikelen
| Titel: |
An X-ray diffraction study of direct-bonded silicon interfaces: A model semiconductor grain boundary |
| Auteur: |
Howes, P.B. Benamara, M. Grey, F. Feidenhansl, R. Nielsen, M. Rasmussen, F.B. Baker, J. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 248 (1998) nr. 1-4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 72 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |