Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 7830 van 18303 gevonden artikelen
 
 
  Interface strain in thermal Si/SiO2 analysed by frequency-dependent electron spin resonance
 
 
Titel: Interface strain in thermal Si/SiO2 analysed by frequency-dependent electron spin resonance
Auteur: Pierreux, Dieter
Stesmans, André
Verschenen in: Physica. B, Condensed matter
Paginering: Jaargang 308-310 (2001) nr. C pagina's 4 p.
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 7830 van 18303 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland