|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 276 van 18303 gevonden artikelen
| Titel: |
AFM imaging analysis of nanoindentation-induced plastic strain in indium surface for calibrating nanoindenters area profiles |
| Auteur: |
Roa, Simón Sirena, Martín |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 633 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 276 van 18303 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |