|
Spectroscopic characterization of implanted boron in microcrystalline silicon by β-NMR |
|
|
|
Titel: |
Spectroscopic characterization of implanted boron in microcrystalline silicon by β-NMR |
Auteur: |
Mai, F. Ittermann, B. Füllgrabe, M. Heemeier, M. Kroll, F. Marbach, K. Meier, P. Mell, H. Peters, D. Thieß, H. Ackermann, H. Stöckmann, H.-J. |
Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
Paginering: |
Jaargang 308-310 (2001) nr. C pagina's 5 p. |
Jaar: |
2001 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|