|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 82 gevonden artikelen
| Titel: |
Anomalous dispersion X-ray reflectometry for model-independent determination of Al/C multilayer structures |
| Auteur: |
Ohkawa, T. Yamaguchi, Y. Sakata, O. Sanyal, M.K. Datta, A. Banerjee, S. Hashizume, H. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 221 (1996) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. All rights reserved |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 82 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |