|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4548 van 18303 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical and physical properties of 4H-SiC MOS interface with electron cyclotron resonance microwave nitrogen plasma post-oxidation annealing |
| Auteur: |
Zhu, Qiaozhi Qin, Fuwen Li, Wenbo Wang, Dejun |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 432 (2014) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4548 van 18303 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |