|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4468 van 18303 gevonden artikelen
| Titel: |
Effectuality of frequency dependent dielectric characterization of (N:DLC) film deposition between the metal-semiconductor interface |
| Auteur: |
Urgun, N. Tan, S.O. Feizollahi Vahid, A. Avar, B. Altındal, Ş. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 698 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4468 van 18303 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |