|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 671 van 675 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction stress analysis of ferroelectric thin films with ideal (h
k
l) textures considering the piezoelectric coupling effect |
| Auteur: |
Wu, Huaping Wu, Linzhi Li, Jiquan Chai, Guozhong Du, Shanyi |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 405 (2010) nr. 4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 671 van 675 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |