|
In-situ synchrotron X-ray diffraction study of stress-induced phase transformation in Ti50.1Ni40.8Cu9.1 thin films |
|
|
|
Titel: |
In-situ synchrotron X-ray diffraction study of stress-induced phase transformation in Ti50.1Ni40.8Cu9.1 thin films |
Auteur: |
Wang, H. Sun, G.A. Chen, B. Fu, Y.Q. Wang, X.L. Zu, X.T. Shen, H.H. Liu, Y.P. Li, L.B. Pan, G.Q. Sheng, L.S. Tian, Q. |
Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
Paginering: |
Jaargang 407 (2012) nr. 17 pagina's 4 p. |
Jaar: |
2012 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|