|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 146 van 214 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative strain characterization of SiGe heterostructures by high-resolution transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Zhao, C.W. Xing, Y.M. Yu, J.Z. Han, G.Q. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 405 (2010) nr. 16 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 146 van 214 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |