|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 404 van 4181 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of interface roughness in W/Si multilayers by high resolution diffuse X-ray scattering |
| Auteur: |
Salditt, T. Lott, D. Metzger, T.H. Peisl, J. Vignaud, G. Legrand, J.F. Grübel, G. Høghøi, P. Schärpf, O. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 221 (1996) nr. 1-4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. All rights reserved |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 404 van 4181 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |