|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 510 van 1228 gevonden artikelen
| Titel: |
In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction |
| Auteur: |
Zhuang, Y Pietsch, U Stangl, J Holý, V Darowski, N Grenzer, J Zerlauth, S Schäffler, F Bauer, G |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 283 (2000) nr. 1-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 510 van 1228 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |