|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1505 van 18303 gevonden artikelen
| Titel: |
Capacitance X-ray absorption fine structure measurement using scanning probe A new method for local structure analysis of surface defects |
| Auteur: |
Ishii, Masashi |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 308-310 (2001) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1505 van 18303 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |