|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 2 gevonden artikelen
| Titel: |
Deep traps in GaN-based structures as affecting the performance of GaN devices |
| Auteur: |
Polyakov, Alexander Y. Lee, In-Hwan |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. R, Reports |
| Paginering: | Jaargang 94 (2015) nr. C pagina's 56 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 2 gevonden artikelen
| volgende >> |