|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Empirical analysis of software-induced failure events in the nuclear industry |
| Auteur: |
Fan, Chin-Feng Yih, Swu Tseng, Wan-Hui Chen, Wei-Chih |
| Verschenen in: |
Safety science |
| Paginering: | Jaargang 57 (2013) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |