Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 821 van 1730 gevonden artikelen
 
 
  Hybrid data mining approach for pattern extraction from wafer bin map to improve yield in semiconductor manufacturing
 
 
Titel: Hybrid data mining approach for pattern extraction from wafer bin map to improve yield in semiconductor manufacturing
Auteur: Hsu, Shao-Chung
Chien, Chen-Fu
Verschenen in: International journal of production economics
Paginering: Jaargang 107 (2007) nr. 1 pagina's 16 p.
Jaar: 2007
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 821 van 1730 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland