|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of surface orientation in uniaxial poly(ethylene terephthalate) films using polarised specular reflectance Fourier transform infrared microscopy |
| Auteur: |
Everall, Neil J. Chalmers, John M. Local, Andrea Allen, Simon |
| Verschenen in: |
Vibrational spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 10 (1996) nr. 2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |