|
Focus drift correction enhanced surface plasmon resonance microscopy by reflection-based positional detection |
|
|
|
Titel: |
Focus drift correction enhanced surface plasmon resonance microscopy by reflection-based positional detection |
Auteur: |
Sun, Sheng Liu, Pengbin Shi, Yimin Zhang, Lulu Lu, Xinchao Zhang, Lingqian Li, Mingxiao Zhao, Yang Huang, Chengjun |
Verschenen in: |
Sensors and Actuators. B, Chemical |
Paginering: |
Jaargang 422 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2025 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|