|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 107 gevonden artikelen
| Titel: |
Development of wafer-level batch fabrication for combined atomic force–scanning electrochemical microscopy (AFM–SECM) probes |
| Auteur: |
Shin, H. Hesketh, P.J. Mizaikoff, B. Kranz, C. |
| Verschenen in: |
Sensors and Actuators. B, Chemical |
| Paginering: | Jaargang 134 (2008) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 107 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |