|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 62 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Technology and micro-Raman characterization of thick meso-porous silicon layers for thermal effect microsystems |
| Auteur: |
Périchon, S Lysenko, V Roussel, Ph Remaki, B Champagnon, B Barbier, D Pinard, P |
| Verschenen in: |
Sensors and Actuators. A, Physical |
| Paginering: | Jaargang 85 (2000) nr. 1-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 62 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |
Toegankelijkheidsverklaring