|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of strain relaxation in epitaxial Si0.3Ge0.7 films grown on Si(001) and Ge(001) |
| Auteur: |
Demczyk, B.G. Naik, V.M. Hameed, S. Naik, R. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 94 (2002) nr. 2-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |