|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of high temperature annealing of InP by scanning photoluminescence and capacitance-voltage measurements of metal/insulator/semiconductor devices |
| Auteur: |
Tardy, J. Perrossier, J.L. Krafft, F. Krawczyk, S.K. Thomas, I. Barbier, D. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 9 (1991) nr. 1-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1991 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |