|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 90 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution X-ray diffraction using a high brilliance source, with rapid data analysis by auto-fitting |
| Auteur: |
Taylor, Mark Wall, John Loxley, Neil Wormington, Matthew Lafford, Tamzin |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 80 (2001) nr. 1-3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 90 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |