|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative analysis of the 1.54 μm emission of Er-doped Si/SiO2 films and the size distribution of the nanostructure |
| Auteur: |
Fonseca, Luis F. Resto, O. Soni, R.K. Buzaianu, M. Weisz, S.Z. Gomez, M. Jia, W. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 72 (2000) nr. 2-3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |