|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Micro-Raman study of the residual stress in molecular-beam-epitaxy-grown Al x Ga1−x As/GaAs multilayer structures |
| Auteur: |
Iizuka, K. Yoshida, T. Matsuda, I. Hirose, H. Suzuki, T. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 5 (1990) nr. 2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |