|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ characterization by reflectance difference spectroscopy of III–V materials and heterojunctions grown by low pressure metal organic chemical vapour deposition |
| Auteur: |
Acher, O. Omnes, F. Razeghi, M. Drévillon, B. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 5 (1990) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |