|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 95 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative study of microdefects in dislocation-free, heavily Si doped VB GaAs by DSL etching, NIR phase contrast microscopy, TEM and X-ray diffuse scattering |
| Auteur: |
Weyher, J.L. Sonnenberg, K. Schober, T. Rucki, A. Jäger, W. Franzosi, P. Frigeri, C. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 44 (1997) nr. 1-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science S.A. All rights reserved |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 95 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |