|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of residual strain by reflectivity, X-ray diffraction and Raman spectroscopy in ZnSe epilayers grown on GaAs (001), InP(001) and GaSb(001) by metal-organic vapor phase epitaxy |
| Auteur: |
Stoehr, M. Maurin, M. Hamdani, F. Lascaray, J.P. Barbusse, D. Fraisse, B. Fourcade, R. Abraham, P. Monteil, Y. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 21 (1993) nr. 2-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |