|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
Physicochemical characterization by means of IR absorption spectroscopy of Si3N4 thin films obtained by chemical vapour deposition assisted by in situ electrical disharge |
| Auteur: |
Balland, B. Bureau, J.C. Botton, R. Glachant, A. Lemiti, M. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 20 (1993) nr. 1-2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |