|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Low frequency noise investigations for evaluation of silicon-on-insulator films obtained by zone-melting recrystallization |
| Auteur: |
Tillack, B. Banisch, R. Januschewski, F. Richter, H.H. Höppner, K. Chovet, A. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 18 (1993) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |