|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
The influence of the native BaAl2O4 boundary layer on microstructure and properties of YBa 2 Cu 3 O 7−x thin films grown on sapphire |
| Auteur: |
Dovidenko, K. Oktyabrsky, S. Tokarchuk, D. Michaltsov, A. Ivanov, A. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 15 (1992) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |