|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the structure and defects in heteroepitaxial Si/CoSi2/Si layers produced by ion beam synthesis and rapid thermal annealing |
| Auteur: |
Reeson, Karen J. Spraggs, Russell S. Gwilliam, Russell M. Sealy, Brian J. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 12 (1992) nr. 1-2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 45 gevonden artikelen
| volgende >> |