|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical and reliability characteristics of oxynitride gate dielectric grown by diluted steam rapid thermal oxidation and annealed in nitric oxide |
| Auteur: |
Liu, C.H Chang, S.J Chen, J.F Lee, J.S Chen, S.C Liaw, U.H |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 107 (2004) nr. 3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |