|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Structure and phase component of ZrO2 thin films studied by Raman spectroscopy and X-ray diffraction |
| Auteur: |
Duc Huy, Le Laffez, P. Daniel, Ph. Jouanneaux, A. The Khoi, Nguyen Siméone, D. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 104 (2003) nr. 3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |