|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 84 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of annealing treatment on the microstructure evolution and the strength degradation behavior of the commercially pure Al conductor |
| Auteur: |
Hou, J.P. Chen, Q.Y. Wang, Q. Yu, H.Y. Zhang, Z.J. Li, R. Li, X.W. Zhang, Z.F. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 707 (2017) nr. C pagina's 511-517 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 84 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |