|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Measuring notch toughness of thin film metallic glasses using focused ion beam-based microcantilever method: Comparison with Ti and TiN crystalline films |
| Auteur: |
Li, Chia-Lin Chu, Jinn P. Lee, Jyh-Wei |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 698 (2017) nr. C pagina's 104-109 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |