|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 72 van 97 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanomechanical and in situ TEM characterization of boron carbide thin films on helium implanted substrates: Delamination, real-time cracking and substrate buckling |
| Auteur: |
Framil Carpeño, David Ohmura, Takahito Zhang, Ling Leveneur, Jérôme Dickinson, Michelle Seal, Christopher Kennedy, John Hyland, Margaret |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 639 (2015) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 72 van 97 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |