|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Mapping strain gradients in the FIB-structured InGaN/GaN multilayered films with 3D X-ray microbeam |
| Auteur: |
Barabash, R.I. Gao, Y.F. Ice, G.E. Barabash, O.M. Chung, Jin-Seok Liu, W. Kröger, R. Lohmeyer, H. Sebald, K. Gutowski, J. Böttcher, T. Hommel, D. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 528 (2010) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |