|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
XPS characterization of surface and interfacial structure of sputtered TiNi films on Si substrate |
| Auteur: |
Fu, Yongqing Du, Hejun Zhang, Sam Huang, Weimin |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. A, Structural materials: properties, microstructure and processing |
| Paginering: | Jaargang 403 (2005) nr. 1-2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 46 gevonden artikelen
| << vorige |